蛍光X線（分析・測定機器・試験機他）株式会社三工商会

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概要	蛍光Ｘ線膜厚測定器
用途	・0.1µmからの薄膜分析・電子部品産業・半導体産業における機能膜の測定・多層膜の測定・品質管理における自動測定

概要	蛍光Ｘ線式膜厚測定器
用途	・薄膜、微小構造や金属メッキの測定・量産部品の品質管理・受入検査・生産管理における膜厚測定や組成分析（電気メッキ量産部品、防食加工・装飾加工品、電子・半導体産業）

概要	蛍光Ｘ線式膜厚測定器
用途	・品質管理・受入検査・生産管理における、薄膜コーティングの膜厚測定や組成分析・薄膜、微小構造や金属メッキの測定（電気メッキ量産部品、小さな測定スポットの薄膜の厚さ測定、電子・半導体産業の機能性多層膜の測定、プリント回路基板などの自動測定）

概要	蛍光Ｘ線膜厚測定器
用途	・極薄膜や多層膜の検査（電子・半導体産業など）・スクリーニング分析（RoHS,玩具,包装材基準のための有害物質検査など）・NiPの組成分析,厚さ測定

概要	集光レンズタイプ蛍光Ｘ線測定装置
用途	・極薄膜や多層膜の検査（電子・半導体産業など）・機能性コーティングの測定

概要	蛍光Ｘ線膜厚測定器
用途	・コネクターや接点の多層コーティング層測定・量産部品のねじやナットの防蝕メッキ,Zn/FeやZnNi/Feなどの電気メッキ皮膜・貴金属などの鑑定

メーカー名