X-RAY XDLM 237（分析・測定機器・試験機他）株式会社三工商会

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ホーム分析・測定機器・試験機他測定機器膜厚測定蛍光X線X-RAY XDLM 237

X-RAY XDLM 237

製品概要

蛍光Ｘ線式膜厚測定器

用途

・品質管理・受入検査・生産管理における、薄膜コーティングの膜厚測定や組成分析
・薄膜、微小構造や金属メッキの測定
（電気メッキ量産部品、小さな測定スポットの薄膜の厚さ測定、電子・半導体産業の機能性多層膜の測定、プリント回路基板などの自動測定）

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製品カタログ

特徴	・最大24種類の元素を同時測定・切り替え可能なコリメーターと一次フィルターを搭載・比例計数管（PC）を採用し検出面積が広いため、小スポットでも高カウントが得られ、高精度測定が可能
メーカー名	株式会社フィッシャー・インストルメンツ
メーカーURL	https://www.helmut-fischer.com/jp/%E8%A3%BD%E5%93%81%E7%B4%B9%E4%BB%8B/%E8%9B%8D%E5%85%89x%E7%B7%9A%E5%88%86%E6%9E%90%E8%A3%85%E7%BD%AE/fischerscope-x-ray-xdlm
使用方法他	製品カタログご参照ください。

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株式会社フィッシャー・インストルメンツ

概要	蛍光Ｘ線式膜厚測定器
用途	・薄膜、微小構造や金属メッキの測定・量産部品の品質管理・受入検査・生産管理における膜厚測定や組成分析（電気メッキ量産部品、防食加工・装飾加工品、電子・半導体産業）

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概要	蛍光Ｘ線膜厚測定器
用途	・極薄膜や多層膜の検査（電子・半導体産業など）・スクリーニング分析（RoHS,玩具,包装材基準のための有害物質検査など）・NiPの組成分析,厚さ測定

株式会社フィッシャー・インストルメンツ

概要	蛍光Ｘ線膜厚測定器
用途	・0.1µmからの薄膜分析・電子部品産業・半導体産業における機能膜の測定・多層膜の測定・品質管理における自動測定

株式会社フィッシャー・インストルメンツ

概要	蛍光Ｘ線膜厚測定器
用途	・コネクターや接点の多層コーティング層測定・量産部品のねじやナットの防蝕メッキ,Zn/FeやZnNi/Feなどの電気メッキ皮膜・貴金属などの鑑定