株式会社サンコウ電子研究所

SWT-NEO

概要	デュアルタイプ膜厚計
用途	塗装,/,ライニング,/,メッキ,/,アルマイトなどの絶縁性皮膜の膜厚測定

株式会社サンコウ電子研究所

SWT-NEOⅡ/NEOⅢ

概要	デュアルタイプ膜厚計
用途	塗装,/,ライニング,/,メッキ,/,アルマイトなどの絶縁性皮膜の膜厚測定

株式会社中央製作所

ED-3

概要	膜厚計用多層ニッケル耐食性測定装置
用途	多層ニッケルめっき耐食性測定装置

株式会社中央製作所

TH-11

概要	電解式めっき厚さ測定器
用途	めっきの品質管理

株式会社フィッシャー・インストルメンツ

COULOSCOPE® CMS2

概要	電解式（電量分析式）の破壊式膜厚計
用途	鉄上の亜鉛や銅上のSn/Niなど単層あるいは多層皮膜の金属皮膜について電解式による膜厚を測定

株式会社フィッシャー・インストルメンツ

DMPシリーズ

概要	渦電流式ハンディ型膜厚計
用途	渦電流式（DIN,EN,ISO,2360）で,アルミや銅などの非磁性金属を素地とする塗装やアルマイト,アルミ上のクロムや無電解ニッケル（条件付き）といった絶縁皮膜の測定

株式会社フィッシャー・インストルメンツ

MP0Rシリーズ

概要	超小型デュアル式膜厚測定器
用途	電磁式・渦電流式,自動切替で皮膜の厚みを測定

株式会社フィッシャー・インストルメンツ

X-RAY XDAL

概要	蛍光Ｘ線膜厚測定器
用途	・0.1µmからの薄膜分析 ・電子部品産業・半導体産業における機能膜の測定 ・多層膜の測定 ・品質管理における自動測定

株式会社フィッシャー・インストルメンツ

X-RAY XDL 230

概要	蛍光Ｘ線式膜厚測定器
用途	・薄膜、微小構造や金属メッキの測定 ・量産部品の品質管理・受入検査・生産管理における膜厚測定や組成分析 （電気メッキ量産部品、防食加工・装飾加工品、電子・半導体産業）

株式会社フィッシャー・インストルメンツ

X-RAY XDLM 237

概要	蛍光Ｘ線式膜厚測定器
用途	・品質管理・受入検査・生産管理における、薄膜コーティングの膜厚測定や組成分析 ・薄膜、微小構造や金属メッキの測定 （電気メッキ量産部品、小さな測定スポットの薄膜の厚さ測定、電子・半導体産業の機能性多層膜の測定、プリント回路基板などの自動測定）

株式会社フィッシャー・インストルメンツ

X-RAY XDV-SDD

概要	蛍光Ｘ線膜厚測定器
用途	・極薄膜や多層膜の検査（電子・半導体産業など） ・スクリーニング分析（RoHS,玩具,包装材基準のための有害物質検査など） ・NiPの組成分析,厚さ測定

株式会社フィッシャー・インストルメンツ

X-RAY XDV-µ

概要	集光レンズタイプ蛍光Ｘ線測定装置
用途	・極薄膜や多層膜の検査（電子・半導体産業など） ・機能性コーティングの測定

株式会社フィッシャー・インストルメンツ

X-RAY XULM

概要	蛍光Ｘ線膜厚測定器
用途	・コネクターや接点の多層コーティング層測定 ・量産部品のねじやナットの防蝕メッキ,Zn/FeやZnNi/Feなどの電気メッキ皮膜 ・貴金属などの鑑定

株式会社ケット科学研究所

L-500

概要	プリンタ内蔵のプローブ型膜厚計
用途	磁性金属上の非磁性被膜または非磁性金属上の絶縁被膜の膜厚測定

株式会社ケット科学研究所

L-600 Standard / Expert

概要	プローブ型膜厚計
用途	磁性金属上の非磁性被膜または非磁性金属上の絶縁被膜の膜厚測定

株式会社ケット科学研究所

LZ-990「エスカル」

概要	デュアルタイプ膜厚計
用途	磁性金属上の非磁性被膜,および非磁性金属上の絶縁被膜の膜厚測定